|
О нас
Сотрудники Публикации Контакты |
|
 | Александр Борисович Михалычев
Старший научный сотрудник, д.ф.-м.н.
Тел.: +375 17 284 26 13
E-mail: alex_m_by at yahoo.com |
Публикации
A. B. Mikhalychev, I. L. Karuseichyk, S. Ya. Kilin. "Weak Local Cross-Kerr Nonlinearity And Linear Optical “Elimination” Measurements As A Resource For Quantum State Engineering" // Journal of Applied Spectroscopy. – 2016. – Vol. 83. – № 6-16. – P. 38-39.
V. S. Reut, A. B. Mikhalychev, D. S. Mogilevtsev. "Analysis of applicability of different basis sets in data pattern tomography for single- and double-mode optical quantum states" // Journal of Applied Spectroscopy. – 2016. – Vol. 83. – № 6-16. – P. 40-42.
A. Mikhalychev, A. Benediktovitch, A. Ulyanenkov. "Simulation of resolution effects in HRXRD by semi-analytical ray-tracing" // Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology: XTOP-2016 Materials. – 2016. – Vol. 23. – P. 320-321.
A. Benediktovitch, T. Ulyanenkova, A. Mikhalychev, V.M. Kaganer, M. Myronov, A. Ulyanenkov. "Misfit dislocation density determination at relaxation onset: reciprocal space map analysis of thin SiGe/Si layers" // Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology: XTOP-2016 Materials. – 2016. – Vol. 23. – P. 275-276.
И. Л. Карусейчик, А. Б. Михалычев. "Метод создания неклассических оптических состояний на основе усиления перепутанности и применения квантовых повторителей" // Сборник научных трудов Международной школы-конференции молодых ученых и специалистов "Современные проблемы физики". – 2016. – C. 46-51.
В. С. Реут, А. Б. Михалычев. "Выбор оптимальных наборов базисных состояний в томографии паттернов данных для одно- и двухмодовых оптических квантовых состояний" // Сборник научных трудов Международной школы-конференции молодых ученых и специалистов "Современные проблемы физики". – 2016. – C. 52-57.
А. Б. Михалычев, А. П. Ульяненков. "Байесовский подход к идентификации фаз в порошковой дифрактометрии" // Сборник материалов Восьмого международного научного семинара и Шестой международной научной молодежной школы-семинара «Современные метода анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики». – 2016. – C. 127-130.
|
|
